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/缺陷检测扫描电镜、晶体学取向成像扫描电子显微术和计算机控制扫描电镜等。扫描电镜的分辨本领可望达到0.2—0.3nm并观察到原子像。
关键词:透射电子显微镜 扫描电子显微镜 仪器制造与发展,电子显微镜(简称电镜,EM)经过五十多年的发展已成为现代
2010年06月08日发布人:钢笔
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请问有谁做过用力调制原子力显微镜表征复合材料界面?如何调制机器参数使得碳纤维和树脂的成像明显(亮度差异明显)?探针振动信号的频率是多少合适呢?力调制驱动振幅呢?
请各位专家赐教,不胜感激:cat39:,Force Modulation
2016年03月26日发布人:女儿情
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成像的表面形貌分析仪器,原子力显微镜 与TEM SEM的区别,看你要干吗了。
如果只是看粒子大小,而且大于1-10nm以上,那就用TEM或者SEM,没必要用AFM。,原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了
2015年08月31日发布人:hcy517
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电子学反馈系统使弯曲量保持一定,即控制扫描管Z 轴使作用于针尖——样品间的力保持一定。在扫描的同时,通过记录反馈信号就可以得到样品表面的形貌。,原子力显微镜是一种分辨率极高且能三维成像的表面形貌分析仪器,原子力显微镜 与TEM SEM的区别,看你要干吗了。
如果只是看粒子大
2015年02月03日发布人:zouyou
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[size=4]透射电子显微镜(TEM)是一种现代综合性大型分析仪器,在现代科学、技术的研究、开发工作中被广泛地使用。
顾名思义,所谓电子显微镜是以电子束为照明光源的显微镜。由于电子束在外部磁场或电场的作用下可以发生弯曲,形成类似于
2010年06月22日发布人:蓝天
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电子学反馈系统使弯曲量保持一定,即控制扫描管Z 轴使作用于针尖——样品间的力保持一定。在扫描的同时,通过记录反馈信号就可以得到样品表面的形貌。,原子力显微镜是一种分辨率极高且能三维成像的表面形貌分析仪器,原子力显微镜 与TEM SEM的区别,看你要干吗了。
如果只是看粒子大
2015年11月28日发布人:n111
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成像的表面形貌分析仪器,原子力显微镜 与TEM SEM的区别,看你要干吗了。
如果只是看粒子大小,而且大于1-10nm以上,那就用TEM或者SEM,没必要用AFM。,原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了
2015年12月28日发布人:yayayu
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大家一起来讨论扫描电子显微镜、透射电子显微镜、原子力显微镜和电子探针的主要原理、特点、
以及他们对试样的要求和在材料研究中的应用,我先说两个相同点:
1、都是用于表征材料组织结构形貌
2、都需要图像采集软硬件,這個有點難﹐一般應用者
2009年10月27日发布人:番茄
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[size=2][color=Black][font=黑体][b]发现论坛里涉及共聚焦激光扫描显微镜的知识很少,共聚焦激光扫描显微镜(CLSM) 是继电镜之后形态学上很先进的研究工具。它可以说是显微镜CT,可以进行光学切片,观察切面的多个
2013年04月11日发布人:#甜#
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不太快,显微镜底下可以看到明显的菌丝和孢子。另一种是一团团的,大小约为100到200微米,会突然出现,但继续增殖并不明显。
如果你是在12天时突然发现
2012年07月25日发布人:tudou85